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BGA元器件及其返修工艺

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发表于 2010-9-12 14:56:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  1概述
* V( N; j- A$ V/ | M0 @2 _
5 h% X+ w: h- ^- Q; v
  随着电子产品向小型化、便携化、网络化和高性能方向的发展,对电路组装技术和I/O引线数提出了更高的要求,芯片的体积越来越小,芯片的管脚越来越多,给生产和返修带来了困难。原来SMT中广泛使用的QFP(四边扁平封装),封装间距的极限尺寸停留在0.3mm,这种间距其引线容易弯曲、变形或折断,相应地对SMT组装工艺、设备精度、焊接材料提出严格的要求,即使如此,组装窄间距细引线的QFP,缺陷率仍相当高,最高可达6000ppm,使大范围应用受到制约。近年出现的BGA(Ball Grid Array 球栅阵列封装器件),由于芯片的管脚不是分布在芯片的周围而是分布在封装的底面,实际是将封装外壳基板原四面引出的引脚变成以面阵布局的pb/sn凸点引脚,这就可以容纳更多的I/O数,且可以较大的引脚间距如1.5、1.27mm代替QFP的0.4、0.3mm,很容易使用SMT与PCB上的布线引脚焊接互连,因此不仅可以使芯片在与QFP相同的封装尺寸下保持更多的封装容量,又使I/O引脚间距较大,从而大大提高了SMT组装的成品率,缺陷率仅为0.3?5ppm,方便了生产和返修,因而BGA元器件在电子产品生产领域获得了广泛使用。
1 Q: ^; V( r( m
  随着引脚数增加,对于精细引脚在装配过程中出现的桥连、漏焊、缺焊等缺陷,利用手工工具很难进行修理,需用专门的返修设备并根据一定的返修工艺来完成。
0 Y3 y0 Q. L1 a: \. W" \1 O
  2 BGA元器件的种类与特性
- Z5 p% z, D* R, Z% P6 E/ k
  2.1 BGA元器件的种类
, L1 R) V7 A& K9 J% U2 g3 _* S: y- l
  按封装材料的不同,BGA元件 主要有以下几种:
% p9 S/ ~. v! f+ g3 ]) J

  PBGA(plastic BGA?塑料封装的BGA)
  CBGA(ceramic BGA?陶瓷封装的BGA)
  CBGA?ceramic column BGA?陶瓷柱状封装的BGA?
  TBGA(tape BGA? 载带状封装的BGA)
  CSP(Chip Scale Package或μBGA)
  PBGA是目前使用较多的BGA,它使用63Sn/37Pb成分的焊锡球,焊锡的溶化温度约为183°C。焊锡球直径在焊接前直径为0.75毫米,回流焊以后,焊锡球高度减为0.46-0.41毫米。PBGA的优点是成本较低,容易加工,不过应该注意,由于塑料封装,容易吸潮,所以对于普通的元件,在开封后一般应该在8小时内使用,否则由于焊接时的迅速升温,会使芯片内的潮气马上气化导致芯片损坏,有人称此为“ 苞米花” 效应。按照JEDEC的建议,PBGA芯片在拆封后必须使用的期限由芯片的敏感性等级决定(见表1): 表1 PBGA芯片拆封后必须使用的期限
& H2 u9 E, i( {% x& I0 l: r

3 M% w) T& M* u0 F: A* y" i7 d: n' o0 o; q; J2 D4 `: {) D$ @+ j* V Q( R0 V, a( U! _' N; b. j! D2 `, ]7 p1 ^1 o9 [3 X0 T2 f/ b) P; Q- v; \6 L* B9 S& H; X# X9 {% `& \4 a2 h# z6 d8 v& a$ w: W, j' q) o- o' a$ ` D1 Z' p+ U0 P, K# P; n0 c' e7 M5 F5 Q% \( P4 K8 t2 t8 ~; k' F2 X) @4 X& E% ^" o9 l: L- W& C( V% Q: C, y: I' Q% \0 ^9 L) b" K$ [# a# `# s9 n6 q( Q3 j0 P8 H$ M9 a: M: G; ~0 `( w% t7 }9 t$ f% q) f1 o( _8 y+ b) h, T$ |7 G; k# Q. G" D+ @7 ?9 V( Y4 ?1 `& j8 U9 Z* Y* s1 b- K" }) N4 R" W- A$ { u/ @- r) e* \- H5 C9 B% V: I9 A0 e1 k9 W @& v2 F1 |. G( {& A6 r6 {5 H4 t7 M: s% G. r1 Y$ c7 m4 ]6 }( U, X6 ~" q# F
; Q* l" p& O0 W
敏感性等级
- c. w* _7 V6 ^ R! B: e; ?
芯片拆封后置放环境条件
/ V1 b# Z' }& X
拆封后必须使用的期限
, b% J+ ?" f4 g! H: \6 l
1级
4 y5 _' q- _4 Z9 G. K; ?" e
=< 30 C , < 90% RH
1 _+ l. `# r2 s& V) z/ s* a# w
无限制
+ l1 Q' Q$ N U# ~
2级
# B6 b5 d, ^! M- {9 O# F K4 ^! L
=< 30 C , < 60% RH
8 K8 \ F+ @; a9 x* i6 A k1 H
1年
* ]! `$ D6 G$ U9 l6 c
3级
3 m$ ?: ~5 F) y# f) a
=< 30 C , < 60% RH
( Z9 Z/ N" C, Y' v9 d
168小时
8 u8 F1 V) M4 y& Y2 p0 O
4级
! C+ ?9 y2 c5 l7 c
=< 30 C , < 60% RH
2 B- D5 j4 @$ v$ F2 Z% U. w) g
72小时
& q2 l8 e- `/ Q8 S; y' p, L8 C
5级
+ a) r) n0 J% |7 {) k3 b
=< 30 C , < 60% RH
5 d% b) Y3 Y4 H6 j6 n; S! o: q l
24小时
' L" U, J2 `& J" ~

  CBGA焊球的成分为90Pb/10Sn ?它与PCB连接处的焊锡成分仍为63Sn/37Pb
2 g. v- \# a! F p
?? CBGA的焊锡球高度较PBGA高,因此它的焊锡溶化温度较PBGA高,较PBGA不容易吸潮,且封装的更牢靠。CBGA芯片底部焊点直径要比PCB上的焊盘大,拆除CBGA芯片后,焊锡不会粘在PCB的焊盘上,见表2。
. a8 l3 |0 f. D7 z2 D- O3 Y$ f
表2 PBGA与CBGA焊接锡球的区别
4 F3 F) u+ w$ r: B% G# w& m8 E7 r) U9 u5 |: e; i" J3 [2 R6 Q {; S e3 [: f4 f. O; N4 g+ ? k1 Q8 K) F8 T( p8 H5 A/ ~' @5 v. j& T2 I( q; D C2 `- e0 D( U- g3 {# `/ l( g* O. U5 \" b+ j$ l6 s" n8 t- f+ L" f$ c( l: J; F3 j! b0 R% S9 r: R4 J% R$ N/ S1 l/ _1 g" e" B& L) o4 k# Y$ y& ~, f9 p9 K) I: t6 p; K& f7 @0 \$ {' ?" h7 u0 h; d- S' S! d: B! N) Z3 K4 i4 [9 G" G( e- I0 B7 E) K+ H& N8 B# B& C; G( n% n. D! o6 x5 a; O5 @7 U' T5 v$ m0 H' k7 P$ ?- ]' r' \: J8 r4 `5 Q+ f* M' [' b9 C9 n- k1 V+ J7 U. `7 J2 q, _1 o# u+ |( t* G6 y, p$ [* a& x
特性 PBGA CBGA
焊锡球成分 63Sn/37Pb 90Pb/10Sn
焊锡球溶化温度 183°C 302°C
溶化前焊锡球直径 0.75毫米 0.88毫米
溶化后焊锡球直径 0.4-0.5毫米 0.88毫米
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  CCBGA的焊锡柱直径为0.51毫米,柱高度为2.2毫米,焊锡柱间距一般为1.27毫米,焊锡柱的成分是90Pb/10Sn。
  TBGA的焊锡球直径为0.76毫米,球间距为1.27毫米。与CBGA相比,TBGA对环境温度要求控制严格,因芯片受热时,热张力集中在4个角,焊接时容易有缺陷。
  CSP芯片的封装尺寸仅略大于裸芯片尺寸?不超过20%?,这是CSP与BGA的主要区别。 CSP较BGA,除了体积小之外,还有更短的导电通路、更低的电抗性,更容易达到频率为500MHz-600MHz的范围。
; W1 s k6 \4 E7 L* `2 l' R4 f
  2.2 BGA元器件的特性
4 N+ A+ T3 P- Q
  CCBGA的焊锡柱直径为0.51毫米,柱高度为2.2毫米,焊锡柱间距一般为1.27毫米,焊锡柱的成分是90Pb/10Sn。
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  TBGA的焊锡球直径为0.76毫米,球间距为1.27毫米。与CBGA相比,TBGA对环境温度要求控制严格,因芯片受热时,热张力集中在4个角,焊接时容易有缺陷。
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  CSP芯片的封装尺寸仅略大于裸芯片尺寸?不超过20%?,这是CSP与BGA的主要区别。 CSP较BGA,除了体积小之外,还有更短的导电通路、更低的电抗性,更容易达到频率为500MHz-600MHz的范围。
5 ?3 l/ Y" y0 m% C% e
  2.2 BGA元器件的特性
+ s2 \) x+ r: ^ V6 g: J
  我们可以从不同为304管脚的QFP与BGA芯片的比较上看出BGA的优点:
9 T7 K9 Y8 z- C. H+ y# k# p - x7 I6 G$ g9 Y" u/ q2 `6 Y7 y8 |8 u0 r* n+ |& m f3 {& Q! V7 n. W- y8 w7 H5 H6 \; D/ n o) ^4 I! W" S5 i. I4 c+ K& Z$ a7 w/ I* R9 K8 T# {0 Y0 q) [' l( f3 P& E9 O, L/ ^# f) s9 T6 o9 r0 a4 h% ?. `( E( @1 @9 m- L) x! p) {) u0 b% i4 J* i4 Q* F4 X" G( n1 i6 \/ f0 k( J1 Y# {3 s& T8 F& E8 c5 D' O, _- X5 R2 ^. ?9 O* d8 i- c! ^$ ?6 o% J' n( i6 f, E5 k7 X! F7 ~$ L1 ^" }$ |# z f; @" S- L7 |% i, U8 Q* y" \: U4 N. o- C7 @8 V0 z6 d- J4 g- v0 a$ p9 ^; y- t: {( @$ w7 }# ~# H' x4 P V& b, m/ P9 T% h" S4 D* G- o0 M6 E) b& w, G# q8 |6 f8 U
  我们可以从不同为304管脚的QFP与BGA芯片的比较上看出BGA的优点:
BGA QFP
  封装尺寸(平方毫米) 525 1600
  脚间距(毫米) 1.27 0.5
  组装损坏率(ppm/管肢) 0.6 100
  元件管脚间信号干扰 1.0X 2.25X
3 O5 `' p! ~/ \* w* B/ f' T* d
  概括起来,和QFP相比,BGA的特性主要有以下几点:
) o4 d) w& R' D7 C
  1〕I/O引线间距大(如1.0,1.27,1.5毫米),可容纳的I/O数目大(如1.27毫米间距的 BGA在25毫米边长的面积上可容纳350个I/O? 而0.5毫米间距的QFP在40毫米边长的面积上只容纳 304个I/O)。
  2〕封装可靠性高(不会损坏管脚),焊点缺陷率低(<1ppm/焊点),焊点牢固。
  3〕QFP芯片的对中通常由操作人员用肉眼来观察,当管脚间距小于0.4毫米时,对中与焊接十分困难。而BGA芯片的脚间距较大,借助对中放大系统,对中与焊接都不困难。
  4〕容易对大尺寸电路板加工丝网板。
  5〕管脚水平面同一性较QFP容易保证? 因为焊锡球在溶化以后可以自动补偿芯片与PCB之间的平面误差。
  6〕回流焊时,焊点之间的张力产生良好的自对中效果?允许有50%的贴片精度误差。
  7〕有较好的电特性,由于引线短,导线的自感和导线间的互感很低,频率特性好。
  8〕能与原有的SMT贴装工艺和设备兼容,原有的丝印机,贴片机和回流焊设备都可使用
  当然,BGA也有缺点,主要是芯片焊接后需X射线检验,另外由于管脚呈球状栏栅状排列,需多层电路板布线,使电路板制造成本增加。
  3 BGA返修工艺
  大多数半导体器件的耐热温度为240?2600C,对于BGA返修系统来说,加热温度和均匀性的控制显得非常重要。美国OK集团的热风回流焊接及返修系统BGA-3592-G/CSP-3502-G和日本M.S.Engineering Co.?Ltd.的MS系列返修工作站很好的解决了这个问题。
) N3 ]2 \. j, P3 N
  本文以美国OK集团的热风回流焊接及返修系统BGA-3592-G 为例简要说明BGA的返修工艺:
. u* q; z0 A' a. w9 C& l
  3.1 电路板、芯片预热
电路板、芯片预热的主要目的是将潮气去除,如果电路板和芯片内的潮气很小(如芯片刚拆封),这一步可以免除。
2 e# J9 M4 i/ y' ]- t
  3.2 拆除芯片
- X( O: ]! _4 N3 d, l
  拆除的芯片如果不打算重新使用,而且PCB可承受高温,拆除芯片可采用较高的温度(较短的加热周期)。
0 T; L( z! E0 l5 ?7 w
  3.3 清洁焊盘
4 @# Q: U8 n2 k$ e+ q- e! H7 ?
  清洁焊盘主要是将拆除芯片后留在PCB表面的助焊剂、焊锡膏清理掉,必须使用符合要求的清洗剂。为了保证BGA的焊接可靠性,一般不能使用焊盘上旧的残留焊锡膏,必须将旧的焊锡膏清除掉,除非芯片上重新形成BGA焊锡球。由于BGA芯片体积小,特别是CSP(Chip Scale Package或μBGA),芯片体积更小,清洁焊盘比较困难,所以在返修CSP芯片时,如果CSP的周围空间很小,就需使用免清洗焊剂。
& E' D9 P" c" V0 Y5 d) W6 X
  3.4 涂焊锡膏,助焊剂
) I+ s) h4 ]! p$ b
  在PCB上涂焊锡膏对于BGA的返修结果有重要影响。通过选用与芯片相符的模板,可以很方便地将焊锡膏涂在电路板上。用OK集团的BGA-3592-G设备微型光学对中系统可以方便地检验焊锡膏是否涂的均匀。处理CSP芯片,有3种焊锡膏可以选择:RMA焊锡膏,非清洗焊锡膏,水剂焊锡膏。使用RMA焊锡膏,回流时间可略长些,使用非清洗焊锡膏,回流温度应选的低些。
! N; U% {) h1 Z4 Q
  3.5 贴片
4 S1 O; T. k8 O3 p$ a: {
  贴片的主要目的是使BGA芯片上的每一个焊锡球与PCB上每一个对应的焊点对正。由于BGA芯片的焊点位于肉眼不能观测到的部位,所以必须使用专门的设备来对中。BGA-3592-G可进行精确的对中。
' B0 @5 Q: ^* F- u7 j; o5 c
  3.6 热风回流焊
6 q: Z8 D: S) Z$ y5 g6 d
  热风回流焊是整个返修工艺的关键。其中,有几个问题比较重要:
0 X1 U; Q# ^# `) g" i6 d& t
  1)芯片返修回流焊的曲线应当与芯片的原始焊接曲线接近,热风回流焊曲线可分成四个区间:预热区,加热区,回流区,冷却区,四个区间的温度,时间参数可以分别设定,通过与计算机连接,可以将这些程序存储和随时调用。
: v# T9 ~* g6 b! i5 d
  2)在回流焊过程中要正确选择各区的加热温度和时间,同时应注意升温的速度。一般,在100oC以前,最大的升温速度不超过6 oC/秒,100oC以后最大的升温速度不超过3oC /秒, 在冷却区,最大的冷却速度不超过6oC/秒。因为过高的升温速度和降温速度都可能损坏PCB和芯片,这种损坏有时是肉眼不能观察到的。不同的芯片,不同的焊锡膏,应选择不同的加热温度和时间。如CBGA芯片的回流温度应高于PBGA的回流温度,90Pb/10Sn应较63Sn/37Pb焊锡膏选用更高的回流温度。对免洗焊膏,其活性低于非免洗焊膏,因此,焊接温度不宜过高,焊接时间不宜过长,以防止焊锡颗粒的氧化。
1 q% ]5 B9 {4 [4 y% n3 F; ?- ]
  3)热风回流焊中,PCB板的底部必须能够加热。这种加热的目的有二个:避免由于PCB板的单面受热而产生翘曲和变形;使焊锡膏溶化的时间缩短。对大尺寸板返修BGA,这种底部加热尤其重要。BGA-3592-G返修设备的底部加热方式有2种,一种是热风加热,一种是红外加热。热风加热的优点是加热均匀,一般返修工艺建议采用这种加热。红外加热的缺点是PCB受热不均匀。
: M ]* K/ N% Y3 M( c7 c6 r( ]7 Y
  4)要选择好的热风回流喷嘴。热风回流喷嘴属于非接触式加热,加热时依靠高温空气流使BGA芯片上的各焊点的焊锡同时溶化。美国OK集团首先发明这种喷嘴,它将BGA元件密封,保证在整个回流过程中有稳定的温度环境,同时可保护相邻元件不被对流热空气加热损坏(如图1所示)。
# h- p" e, ]3 {. @6 \: V' \$ G
  4 结束语
7 l# p% v: z6 R; f7 D1 f, M
  在电子产品尤其是电脑与通信类电子产品的生产领域,元器件向微小型化、多功能化、绿色化发展,各式封装技术不断涌现,BGA/CSP是当今封装技术的主流。BGA/CSP元器件的优势在于进一步提高元器件的集成度,并缩小其封装尺寸,因而提高了高密度贴装技术的水平,十分适合电子产品轻、薄、短、小及功能多样化的发展方向。
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  为满足迅速增长的对BGA元器件电路板组装需求和生产者对丝网印刷、对中贴片和焊接过程控制精度的要求,提高BGA的组装焊接及返修质量,需选择更安全、更快、更便捷的组装与返修设备及工艺。【MechNet】

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